光阻法是測量顆粒粒徑的一種方法，同時也可以測量粒子濃度。光阻法適用于nm級的粒子粒徑測量，粒子濃度不宜太大，因為主要是利用光子的單次散射，彈性散射效應，粒子濃度太大，光子穿過介質傳播時，不免發(fā)生多次散射，從而造成測量的不。不過對于粒子濃度較大的情況，我們也有解決方法，例如在激光接收器前放置一面透鏡，使得透鏡的焦點剛好在接收器的位置，這樣主要是使得只有平行光進入接收器，即只接收到單次散射光子，而多次散射的光子因為散射效應而偏離了光軸中心，不能被接收器接收到，我們需要的就是這個結果，這樣誤差便能減小了。同時還可以減小接收器的接收面積，只接收光軸中心的光子，同樣也能達到減小誤差的效果。

    AccuSizer 780 光阻法顆粒計數(shù)器是運用光阻法單顆粒光學傳感技術（SPOS）對粒子樣本進行粒徑測試并計數(shù)，一次檢測一個粒子，來構建真正的粒徑分布。運用 SPOS 技術與激光衍射和沉降法所得到的粒徑統(tǒng)計學分布數(shù)據(jù)形成了鮮明對比，SPOS 技術能夠在測量粒徑的同時收集顆粒數(shù)目信息，對顆粒進行的計數(shù)。

    與經(jīng)典的電阻法相比，AccuSizer780 系列儀器所得到的粒徑分布具有更高的分辨率和性。AccuSizer 780 系列儀器不會錯過任何“尾部”大顆粒，而這往往決定著被測樣品的合格與否。